理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus IVi

型號:ZSX Primus IVi
理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus IVi,采用下照式光路結構,能夠對液體、合金和電鍍金屬等樣品進(jìn)行無(wú)損分析。ZSX Primus IVi為分析最復雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。

產(chǎn)品描述

理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus IVi


ZSX Primus IVi 具有一個(gè)30微米的鈹窗的X光管,這是業(yè)內最薄的鈹窗,具有卓越的輕元素檢測限。



提高通量


通過(guò)高速數據處理和各驅動(dòng)部的高效控制提高了通量。 對于水泥樣品 (加壓成型樣品)中16種元素的定量分析, 縮短約18% (與本公司相比), 增加了單位時(shí)間內處理的樣品數量。



D-MCA高速分析


數字多通道分析儀(D-MCA)系統有助于高速數字處理,實(shí)現高計數率,從而提高分析精度和計算速度。



光學(xué)系統不易受到樣品表面高度變化的影響


不平整的樣品表面會(huì )導致樣品和X射線(xiàn)管之間的距離變化。這些差異可能導致X射線(xiàn)強度的變化。Rigaku光學(xué)系統能夠抑制由距離變化引起的X射線(xiàn)強度變化。這使得制備玻璃熔 片的坩堝形狀的差異以及粉末樣品加壓成型時(shí)樣品表面的不平整的影響減少, 從而能夠進(jìn) 行準確的分析。



精準的SQX分析


SQX分析是用于精確計算元素組成的無(wú)標準FP分析軟件?,F在比以往任何時(shí)候都更易于使用。



自動(dòng)芯線(xiàn)清洗機構


F-PC探測器芯線(xiàn)逐漸被氣體污染,從而降低分辨率。芯線(xiàn)清潔機構通過(guò)電加熱消除芯線(xiàn)污染,無(wú)需關(guān)閉電源或打開(kāi)機柜,從而恢復性能。



特征


輔助測量和分析支持:ZSX Guaidance—自動(dòng)化分析設置功能增強的第三代SQX分析軟件


ZSX Guaidance軟件—內置XRF專(zhuān)業(yè)知識可處理復雜的設置??捎玫膽贸绦虬С纸昏€匙操作。


可編程的直觀(guān)軟件,用于使用樣品托盤(pán)進(jìn)行日常分析—每個(gè)托盤(pán)的樣本ID設置(便于輕松復制和粘貼,以實(shí)現高效的測量設置)。


提高了液體樣品分析的準確性—校正由液體樣品杯的幾何形狀引起的幾何形狀效應。


高速、高精度測量—采用新驅動(dòng)有效的降低了儀器運行時(shí)間


獨特的功能—下照式光路結構實(shí)現了方便的功能,包括新樣品膜校正。


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