華普科普欄目丨波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀的照射方式

發(fā)表日期:2024/05/06 瀏覽次數:

波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀的照射方式可分為上照式和下照式兩種光學(xué)結構。


上照式光學(xué)結構即X光管在樣品上方,下照式光學(xué)結構即X光管在樣品下方。

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下照式光學(xué)系統


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上照式光學(xué)系統


上照式X熒光光譜儀和下照式X熒光光譜儀都能對液體樣品、固體樣品、粉末樣品、不規則樣品或少許稀松粉末進(jìn)行元素分析。兩類(lèi)儀器在光學(xué)空間結構和光學(xué)元器件一致的情況下,精度沒(méi)有區別。


針對固體和液體樣品的測試,基于兩類(lèi)儀器配置的樣品盒結構不同,下照式儀器裝樣更簡(jiǎn)單。其中,液體樣品的測試需要在氦氣下進(jìn)行。


針對粉末樣品,一般需要用壓片法或者熔片法做前處理。當分析壓片時(shí),一旦粉末樣品未壓緊,稀松的樣品粉末在重力和真空作用下,會(huì )進(jìn)入到下照式的儀器的光譜室或光管,造成不可逆的污染,而采用上照式的儀器即可完全避免粉末樣品對分析腔和X光管的污染。


在分析熔片時(shí),如果玻璃熔片處理不當,在分析過(guò)程中,可能開(kāi)裂掉落,大的碎塊直接損害下照式的儀器X光管,若使用上照式的儀器,碎塊就會(huì )掉落到樣品盒里,更加安全可靠。

圖片 3.png


綜上所述,粉末樣品的測試上照式儀器更安全,更有優(yōu)勢;固體和液體樣品,下照式儀器裝樣更簡(jiǎn)單。


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